激光粒度分析仪的光路如图所示。
它由三部分组成：启动，验收和测量窗口。
发光部分由光源和光束处理装置组成，主要用于为仪器提供单色平行光作为照明光。
接收器是仪器光学结构的关键。
测量窗口主要允许待测样品以完全分散的悬浮状态通过测量区域，以便仪器可以获得样品的粒度信息。
激光粒度分析仪基于粒子可以散射激光的物理现象来测量粒度分布。
由于激光具有良好的单色性和强方向性，激光将在无限空间内无限制地照射无限远，并且在传播过程中几乎没有发散。
米氏散射理论表明，当光束遇到粒子阻挡时，一部分光会散射，散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成角度θ。
θ的角度与粒子的大小有关。
产生的散射光的θ角越大，粒径越小，产生的散射光的θ角越大。
也就是说，小角度（θ）的散射光是由大颗粒引起的;大角度（θ1）的散射光是由小颗粒引起的。
进一步的研究表明，散射光的强度代表颗粒尺寸的颗粒数。
因此，通过测量不同角度的散射光的强度，可以获得样品的粒度分布。
为了测量不同角度的散射光强度，必须使用光学装置来处理散射光。
我们将Fuen镜头放置在光束中的适当位置，并在Fuli镜头的后焦平面上放置一组多元件光电探测器。
当通过Fuen透镜将不同角度的散射光照射到多元件检测器上时，光信号将被转换成电信号并传输到计算机。
这些信号将由专用软件处理，并且将精确地获得粒度分布。
1.重复性仪器采用Furanhofer衍射和米氏散射理论。
测试过程不受许多因素的影响，如温度变化，中等粘度，样品密度和表面状态。
只要待测样品均匀显示在激光束中，就可获得准确的测试结果。
此外，与沉降方法不同，由于不需要沉降过程，可以在一次测试（5-20任意设置）中多次采样，有效滤除电噪声和样品分布不均匀等因素造成的影响，仪器测试的可重复性越来越好。
2，测试范围宽，由于采用大尺寸光电探测阵列（70通道），横向辅助光电探测阵列（12通道）等相应技术，使单透镜测试范围达到0.1 --- 450微米;在仪器使用过程中无需更换镜头和调整光学系统，从而提高了系统的稳定性并简化了操作过程。
3.半导体激光发生器的使用具有光学参数稳定，效率高，寿命长，不用振动等一系列优点。
它克服了传统气体激光器的缺点，由于自然空气泄漏，需要定期更换。
4，自动化程度高，操作简单仪器采用微电脑进行实时控制，自动完成数据采集，分析处理，结果存储，打印等功能，操作简单，自动化程度高。
高。
5，快速测试因为没有必要解决这个过程，所以测试速度大大提高，一般情况下，一个样品测试可以在1分钟内完成。
（注意：不包括样品制备时间）。
5，软件仪器测试程序采用MSVC / C ++ 6.0编译，在中文Windows95 / 98 / ME / 2000 / NT / XP人机界面界面，操作直观简单，通俗易懂。
数据输出内容丰富，可以输出英文测试报告，也可以输出彩色打印机的颜色测试报告。
6，采用独特的机械搅拌装置，具有搅拌力矩大，速度快，搅拌均匀等一系列优点。
1.各种非金属粉末：如重钙，轻钙，滑石，高岭土，石墨，硅灰石，水镁石，重晶石，云母粉，膨润土，硅藻土，粘土等.2。
各种金属粉末：如铝粉锌粉，钼粉，钨粉，镁粉，铜粉，稀土金属粉末，合金粉末等。
3.其他粉末：如催化剂，水泥，磨料，药品，农药，食品，油漆，染料，荧光粉，河流沉积物，陶瓷原料，各种乳液。
1.大学教材2.化学工业实验室等3.大型企业实验室4.重点实验室5.研究所
