植物冠层分析仪由Top Yunnong开发和提供。该仪器可以测量叶面积指数，平均叶倾角，散射辐射透射率，不同太阳高度下的直接辐射透射率以及叶面积密度的方向。分布，冠层内部和外部的光合有效辐射等。它广泛用于农作物和植物种群的冠层光状态的测量和分析以及农业科学研究。植物冠层分析仪可以有效地分析植被指数RVI，NDVI，农作物叶片氮含量，氮素积累，叶面积指数，叶干重等，如叶面积指数，光隙和间隙分布。通过分析辐射数据的相关信息，可以测量被冠层截获的PAR和冠层以下的辐射水平。与传统的测量方法相比，植物冠层分析仪还可以避免植被破坏的缺点。它具有方便，快捷，无损坏，无时间限制，数据量大的优点。非常适合现代农业研究和研究。目前，该设备已被广泛用于农业，园艺和林业领域中与栽培，育种以及植物种群比较和开发有关的教学和研究工作中。它可以有效地帮助人们科学种植和施肥，并使作物处于更有利的生长状况。以达到高质量，高产量的目的。植物冠层分析仪采用的原理是冠层孔隙度与冠层结构有关。根据比尔定律，光线穿过介质会减弱。在为植物冠层定义一系列假设的条件下，它使用半理论和半经验公式通过测量冠层孔隙来计算冠层结构参数。这是世界上各种天篷乐器所使用的原理。在上述原理下，植物冠层分析仪采用测量冠层下冠层孔隙度的方法。在各种方法中，该方法都是准确且省力的。 ，省时，快捷，方便的方法。 q