车辆中使用的电子系统IC的复杂性正在逐渐增加。希望可以通过实现人工智能（AI）算法来控制自动驾驶功能。同时，它还必须满足《道路车辆功能安全ISO 26262》的要求。标准（以下称为“ ISO 26262”）。因此，IC设计公司也正在迅速采用完整的测试解决方案，以满足相关的标准要求。确保车辆电子设备稳定性的方法之一是在功能运行期间执行定期测试，即在逻辑和内存中使用内置的自测（BIST）。逻辑BIST也是ISO 26262执行诊断测试的推荐机制。它包括扫描链中用于生成随机图案的芯片，但是在汽车IC中实现BIST仍然存在挑战。第一个是满足诊断测试间隔（DTI）的限制，第二个是创建符合测试计划的逻辑BIST，第三个是建立对所有芯片逻辑BIST的应用程序级别访问并启动市场反馈诊断。 “ ISO 26262”指出DTI必须在100到几微秒之间，这对于汽车安全完整性等级中最严格的D标准是一个挑战。另外，“ ISO 26262”也包括在内。还定义了错误发生之前的一段时间，直到错误带来有害后果。因此，为了符合DTI，必须并行执行测试，但是执行并行测试是体系结构上的挑战，并且可能会破坏设计的功耗预算。通常，所有功能安全监视和系统内测试活动都由在专用或共享CPU上执行的软件来驱动。从软件层直接访问测试机制可以减轻开发过程的压力并减少测试延迟。此外，找到故障电路，尤其是涉及法律责任的市场反馈，也非常重要。系统内测试解决方案必须能够执行相同的测试并收集更多类似于制造测试文件的测试详细信息。这样，可以诊断电路以找出故障的根本原因。随着设备尺寸和复杂性的不断增加，满足ISO 26262标准的质量和可靠性要求变得更加困难。因此，应在IC设计过程的早期就考虑设计和测试活动。在可测试性（DFT）流程的高级设计中使用逻辑BIST可以帮助制造商实现质量和可靠性指标以及产品差异化。汽车安全相关IC的DFT可以由EDA供应商提供的全面ISO 26262认证自动化来协助。